熱門(mén)關(guān)鍵詞: 高低溫試驗(yàn)箱 恒溫恒濕試驗(yàn)箱 步入式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室 高壓加速老化試驗(yàn)箱 冷熱沖擊試驗(yàn)箱
按試驗(yàn)樣品的特性來(lái)分,可以分為非散熱試驗(yàn)和散熱試驗(yàn)樣品兩種類型。兩者在試驗(yàn)時(shí)又可以分為不通電和通電兩種試驗(yàn)類型(高溫貯存、高溫工作)。貯存分為循環(huán)貯存和恒溫貯存,工作分為恒溫工作和循環(huán)工作兩種。
4、高低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)容積與試樣及試樣間大小關(guān)系:各單元及單元與試驗(yàn)箱內(nèi)壁間至少應(yīng)保持15cm的距離,以確保空氣能正常循環(huán)(GJB150.1A)。一般來(lái)說(shuō),對(duì)于發(fā)熱試樣,其體積不大于高低溫試驗(yàn)箱有效容積的十分之一;不發(fā)熱試樣,其體積不大于試驗(yàn)箱有效容積的五分之一。
在受試樣品安裝時(shí),應(yīng)將其放置在試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的擱架或?qū)iT(mén)制作的樣品架上。除支點(diǎn)外受試樣品應(yīng)被自由空氣包圍。禁止將受試樣品放置于箱底或?qū)嵭膲|板上。
1、GJB 150.3A-2009 《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)》
2、GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法108 高溫壽命試驗(yàn)》
3、GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》
4、GJB 367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 A02高溫試驗(yàn)》5、GJB 3493-1998 《軍用物資運(yùn)輸條件》
6、GJB 150.3-1986 《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》7、GJB 4.2-1983 《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)高溫試驗(yàn)》
8、MIL-STD-810F環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)試驗(yàn)[S] 美國(guó)國(guó)防部,20009、IEC60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn):高溫
原文來(lái)自:可靠性工程師
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