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電路板做高溫低濕試驗的必要性

作者：網絡編輯：瑞凱儀器來源： m.lagrangecompost.com 發布日期： 2021.01.08

    近日小編在朋友圈里閱讀過一篇“高溫低濕試驗的必要性”的文章，覺得文章的內容非常實用，也可以幫助各位用戶解決一些實際問題，現如今整理一下分享給大家。
    1）低濕試驗的失效機理；
    2）對電路板而言，高溫低濕試驗是否可以取消，或者直接用現有的高溫高濕測試取代？
    3）哪些場景高溫低濕試驗是不能被高溫高濕取代的？
    相信長時間接觸環試行業的朋友都清楚，我們在做測試的時候常用的是相對濕度，對低濕度測試的了解甚少。這里瑞凱儀器小編就先說一下“低濕”，這個目前沒找到具體的數值定義，有說20%RH以下是低濕，有說10%RH以下是低濕，這里對數值不討論，先暫定20%RH以下的濕度為低濕（如果大家有相關標準定義的數值請留言分享），因為目前大部分恒溫恒濕試驗箱（高低溫濕熱試驗箱）不加除濕干燥箱也能做到20%RH/40℃。我們知道現實世界中通常是存在高溫低濕的環境的，例如MIL-STD-810H明確統計了一些干燥地區的相對濕度，能達到3%RH左右，而ASHRAE的機房標準也提到了8%RH的低濕環境；如果需要測試這就需要特殊的除濕箱進行低濕測試了。

1、低濕試驗的失效機理；

很多人都知道低濕環境很容易產生靜電，根據IEC61000-4-2的描述如下張圖，隨著濕度降低，產生的靜電等級會逐漸升高，這里也交代下ESD測試中空氣放電15Kv的由來，當濕度為10%RH時，根據下面曲線對應的靜電等級為15Kv。

在某低濕測試溫箱廠家的文章里面提到了一些醫療消毒設備尤其需要做低濕測試，因為低濕會增加細菌和病毒的傳播和生存能力，解釋了下冬季流感的主要原因不是因為寒冷而是因為低濕（這里因為我沒有醫療設備相關經驗，如果有錯誤還請指正）？

低濕試驗的失效機理

2、對電路板而言，高溫低濕試驗是否可以取消，或者直接用現有的高溫高濕測試取代？

我們討論一個測試能不能被其他測試取代，首先出發點就是看失效機理是不是相同。這兩個測試都是高溫條件，而810H只提到了高溫測試的失效機理，并未區分低濕和高濕對于電路板的影響；根據Peck溫濕度加速模型如下可知，濕度越高，加速因子越大，也就是說高濕相對低濕能更快的暴露電子產品存在的問題，如電遷移，腐蝕，電介質擊穿，錫須生長等；如果按照這個理論是完全可以用高溫高濕取代高溫低濕的測試，這里有人可能會說那靜電呢？

明確一下這里的電路板指的是測試自行運行過程中不會受靜電干擾的電路板，例如筆記本或手機或服務器放在溫箱里測試，因為沒有人為接觸和其他干擾就可以不必考慮靜電對其造成的影響；而實際使用過程中因為人體放電的靜電影響，這些產品都會有單獨的ESD測試，所以不必擔心，因為沒有發現其他失效機理，所以這里感覺是可以用高溫高濕測試取代高溫低濕；

高溫低濕試驗是否可以取消

補充：這個理論并非一定正確，只是一個嘗試，因為在從業的這些年沒有發現一起電路板失效是直接相關于高溫低濕的，絕大部分是強相關于高溫高濕；而如果能取代能夠有2個好處，一個是項目進度，目前能做到5%RH低濕的箱子很少，預定很麻煩，另外成本，一個低濕箱子市面上不管是設備價格還是測試價格差不多都是普通高濕箱子的1.5倍左右。