瑞凱溫度循環(huán)試驗(yàn)箱-讓電子產(chǎn)品環(huán)境使用適能力更可靠

作者： salmon范編輯：瑞凱儀器來(lái)源： m.lagrangecompost.com 發(fā)布日期： 2021.06.23

隨著消費(fèi)電子和汽車電子的蓬勃發(fā)展，5G也迎來(lái)了商用熱潮，電子技術(shù)的升級(jí)以及電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加，加上電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷，元件、產(chǎn)品、系統(tǒng)很難確保在一定時(shí)間內(nèi)、在一定條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。因此，為了確認(rèn)電子產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國(guó)標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目。

電子產(chǎn)品

    比如高低溫循環(huán)測(cè)試
    高低溫循環(huán)測(cè)試是指設(shè)定溫度從-50℃保持4個(gè)小時(shí)后，升溫到 +90℃，然后，在+90℃保持4個(gè)小時(shí)，降溫到-50℃，依次做N個(gè)循環(huán)。
    工業(yè)級(jí)溫度標(biāo)準(zhǔn)為-40℃ ~ +85℃，因?yàn)?strong>溫度循環(huán)試驗(yàn)箱通常會(huì)存在溫差，為保證到客戶端不會(huì)因?yàn)闇囟绕顚?dǎo)致測(cè)試結(jié)果不一致，內(nèi)部測(cè)試建議使用標(biāo)準(zhǔn)溫度±5℃溫差來(lái)測(cè)試。
    測(cè)試流程：
    1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50℃，保持4個(gè)小時(shí)；請(qǐng)勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測(cè)試，非常重要，因?yàn)橥姞顟B(tài)下，芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測(cè)試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測(cè)試。
    2、開(kāi)機(jī)，對(duì)樣品進(jìn)行性能測(cè)試，對(duì)比性能與常溫相比是否正常。
    3、進(jìn)行老化測(cè)試，觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。
    4、升溫到+90℃，保持4個(gè)小時(shí)，與低溫測(cè)試相反，升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執(zhí)行2、3、4測(cè)試步驟。
    5、高溫和低溫測(cè)試分別重復(fù)10次。

如果測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測(cè)試失敗。

高低溫循環(huán)測(cè)試

    參考標(biāo)準(zhǔn)：
    GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
    GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
    GB/T2423.22-2002試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法等。
    除了高低溫循環(huán)測(cè)試，電子產(chǎn)品還可能做的可靠性測(cè)試有恒溫恒濕測(cè)試(Temperature And Humidity test)、交變濕熱測(cè)試（Damp Heat, Cyclic test）、低溫存儲(chǔ)測(cè)試 (Low Temperature Storage test)、高溫存儲(chǔ)測(cè)試 (High Temperature Storage test)、高低溫沖擊測(cè)試(thermal shock test)、鹽霧測(cè)試（Salt Spray Test）、振動(dòng)測(cè)試隨機(jī)/正弦(Vibration test)、包裝箱自由跌落測(cè)試(Drop test)、蒸氣老化測(cè)試(Steam Aging test)、IP等級(jí)防護(hù)測(cè)試（IP Test)、LED光衰壽命測(cè)試及認(rèn)證（LED LM80 Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources）等，根據(jù)廠商對(duì)產(chǎn)品的測(cè)試要求選擇。
    瑞凱儀器研發(fā)、生產(chǎn)的溫度循環(huán)試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱等為電子產(chǎn)品的可靠性測(cè)試提供了解決方案，通過(guò)模擬自然環(huán)境中的溫度、濕度、海水、鹽霧、沖擊、振動(dòng)、宇宙粒子、各種輻射等，可以提前判斷產(chǎn)品適用的可靠度、失效率、平均無(wú)故障間隔。

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